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名工大テクノフェアロゴマーク 名工大テクノフェア2020 11月1日から12月5日まで

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自己相似性に基づく画像再構成技術の研究

横田 達也 (助教)
自己相似性に基づく数理モデルを用いてセンサー等から取得した情報から画像を再構成する技術について紹介します。特にノイズ除去、欠損値の復元、ボケの復元、超解像、圧縮センシングなどへの応用に役立ちます。

研究フェーズ

原理検証

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なし 提供の際は諸手続が必要となるため、「科学技術相談」よりお問い合わせください。

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