微細欠陥・閉口亀裂を検出する非線形超音波非破壊検査
伊藤 智啓 (准教授)
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全数検査が求められ、多くの製造過程で超音波非破壊検査が使われています。従来の超音波非破壊検査では、閉口亀裂や高散乱材料中の微細欠陥の検出は困難です。しかし、非線形超音波法はその課題を解決します。
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